LS 13 320 XR Partikül Boyutu Analizörü

Küçük farklılıkları tespit etmenize yardımcı olacak büyük iyileştirmeler için.

LS 13 320 XR, yüksek çözünürlüklü ölçümler ve genişletilmiş dinamik aralık sağlayan gelişmiş PIDS teknolojisinden* sınıfının en iyisi parçacık boyutu dağılım verilerini sunar. LS 13 320 gibi, XR partikül boyutu analizörü de hızlı ve doğru sonuçlar sağlar ve verimliliği optimize etmek için iş akışlarını düzenlemenize yardımcı olur. Bazı büyük iyileştirmeler, parçacık analizi verileriniz üzerinde büyük etkisi olabilecek küçük farklılıkları güvenilir bir şekilde tespit etmenize yardımcı olur.

10 nm – 3.500 µm arasında doğrudan ölçüm aralığı
Daha hızlı kalite kontrolü için başarılı/başarısız sonuçları otomatik olarak vurgular
Standartlaştırılmış ölçümler için yöntem oluşturmayı basitleştiren gelişmiş yazılım
Cihaz/modül performansını yeterince doğrulamak için yeni kontrol standartları

KAYNAKLAR + ARAÇLAR

Teknik Dökümanlar SSS 21 CFR Part 11 Yetenekler Özellikler

LS 13 320 XR Partikül Boyutu Analiz Cihazı Özellikleri

Küçük Farkları Bul

Genişletilmiş ölçüm aralığı: 10 nm – 3.500 µm
Lazer kırınımı artı gelişmiş Polarizasyon Yoğunluğu Diferansiyel Saçılma (PIDS) teknolojisi, 10 nm’ye kadar gerçek verilerin yüksek çözünürlüklü ölçümüne ve raporlanmasına olanak tanır
Tek bir numunede birden fazla partikül boyutunun doğru ve güvenilir şekilde saptanmasını sağlar

Kullanımı Kolay Yazılım

ADAPT Yazılımında otomatik başarılı/başarısız kontrolü bulunur
Önceden yapılandırılmış yöntemler, 3 veya daha az tıklamayla sonuç verir
Hem uzmanlar hem de acemi kullanıcılar tarafından analizör çalışmasını basitleştirir
Geçmiş verilerle tek tıklamayla yer paylaşımı
Sezgisel kullanıcı teşhisi, numune alma sırasında sizi bilgilendirir
Standartlaştırılmış ölçümler için basitleştirilmiş yöntem oluşturma

ADAPT Yazılımı, 21 CFR Bölüm 11’i etkinleştirir

Farklı ihtiyaçları karşılamak için özelleştirilebilir güvenlik sistemi
4 güvenlik seviyesinden birini seçin
Yüksek güvenlikli yapılandırma, 21 CFR Bölüm 11‘i destekler

10 nm Parçacıkların Doğrudan Tespiti için PIDS Teknolojisi*

3 ışık dalga boyu (450, 600 ve 900 nm) örnekleri dikey ve yatay polarize ışıkla ışınlar
Analizör, numunelerden yayılan ışığı çeşitli açılardan ölçer
Her dalga boyu için yatay ve dikey olarak yayılan ışık arasındaki farklar, yüksek çözünürlüklü parçacık boyutu dağılım verileri sağlar

Ürün Özellikleri

Verim	ISO 21501-4 üniteden üniteye doğruluk ve tekrarlanabilirlik
Endüstri standartları	ISO 21501-4 , ISO 14644-1:2015, CE, FCC
Işık kaynağı	Uzun Ömürlü Lazer™ Diyot
Tesadüf Kaybı	14.000.000 partikül/m³’de %5
Örnek hacim	10 µm
Verim	Dakikada 28,32 L
Sıfır Sayısı	ISO 21501-4 & JIS B 9921 (1 count or less in 5 min; 95% UCL)
Sayma Alarmları Ekranı ve Döngüleri	User-defined alarm counts displayed via LED on box or remote LED
Başvurulan Ürün Özellikleri	2088715-NF-ED-0